IBAF 2008 - 2e Rencontres "Ion Beam Analysis France"
13 au 15 octobre 2008 - Carcans (F)

 
Partenaires :

 

 

 

Introduction en Anglais
Après s’être tenue à Nouan-le-Fuzelier en mars 2003, la 2ème manifestation "Ion Beam Analysis France" organisée par la Société Française du Vide aura lieu au Domaine de Bombannes à Carcans (33) du 13 au 15 octobre 2008.

L’objectif de ces rencontres est de réunir la communauté principalement francophone (chercheurs, ingénieurs, étudiants) des faisceaux d’ions rapides (Rétrodiffusion Rutherford, canalisation d’ions, analyse par réactions nucléaires, PIXE, …). Il doit aussi permettre de faire le point sur les récents développements instrumentaux et sur les évolutions relatives aux programmes de simulations.

L’utilisation des techniques nucléaires d’analyse couvrant un très large spectre d’applications, la liste des thèmes proposés devrait permettre de rassembler un maximum de participants. L’organisation fait également place aux équipes techniques des laboratoires.

Thèmes proposés :

  • Applications en sciences des matériaux et nanosciences
  • Propriétés des surfaces et interfaces
  • Matériaux pour le nucléaire
  • Applications aux systèmes biologiques
  • Objets du patrimoine
  • Sciences de la Terre et de l'environnement
  • Développements instrumentaux, méthodologies, simulations, modèles physique

Conférences :

Chaque session débutera par un exposé invité donné par un chercheur de renommée internationale :

Une session poster sera également organisée et deux tables rondes seront menées en parallèle à la fin des rencontres : l’une plutôt dédiée aux équipes machines qui portera sur les problèmes liés aux accélérateurs – pilotage, contrôle commande, développement – et l’autre dédiée à la simulation des spectres.

Visites :

2 visites des installations AIFIRA seront proposées: une visite technique le mardi après-midi qui s’adressera en priorité aux équipes machine et une autre visite le mercredi après-midi pour les autres participants .

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Following on from IBAF-1 held at Nouan-le-Fuzelier in March 2003, a second workshop “Ion Beam Analysis France” will be organised by the French Vacuum Society at Carcans (in the Gironde) from 13 to 15 October 2008.

This meeting is intended to provide an opportunity for a predominantly francophone community (scientists, engineers, students) using or envisaging use of fast ion beams for analysis (Rutherford Backscattering Spectrometry, ion channelling, nuclear reaction analysis, PIXE …). It will also be a forum for presentation of the latest IBA applications, and instrumental and software developments.

The use of ion beam analysis techniques covers a vast range of fields, and the proposed list of themes is intended to allow significant cross-fertilisation between different fields. Special sessions oriented towards technical and maintenance staffs are also planned.

Themes

  • Applications of rapid ion beams in materials and nano-sciences
  • Properties of surfaces and interfaces
  • Materials for the nuclear industries
  • Applications of rapid ion beams in biology
  • Cultural Heritage studies
  • Earth and environmental sciences
  • Instrumental developments, methodology, simulations, physical models

Organisation

Each session will begin with an invited talk from an internationally recognised scientist:

  • Nuno BARRADAS (ITN Lisbon,
  • Aurelio CLIMENT-FONT (CMAM Madrid)
  • Caroline RAEPSAET (CEA Saclay)
  • Philippe RONCIN (LCAM Orsay)
  • Hervé SEZNEC (CENBG Gradignan)
  • David STRIVAY (IPNAS Liège)

There will be a poster and also two round tables will be organised in parallel – one dedicated to spectrum simulation, and the other to ‘machine’ issues such as command and control, accelerator development and maintenance, performance and beam-handling issues and so on.

Visits

2 visits to the AIFIRA installation are proposed: a technical visit on Tuesday afternoon, aimed mainly at machine physicists and engineers, and a visit on Wednesday afternoon for other participants.

 
Société Française du Vide - 19, rue du Renard - 75004 Paris, France
Tél. : +33 (0)1 53 01 90 30 - Fax : +33 (0)1 42 78 63 20 - sfv@vide.org