1. Christophe Moreau (CEA Saclay, Gif sur Yvette)

Techniques d’analyse par spectrométrie de masse par accélérateur : datation carbone 14

 

2. .Richard Ortega (Université de Bordeaux)

Applications des techniques d’analyse par faisceau d’ions pour l’imagerie cellulaire

 

3. Guy Ross (INRS, Varennes, Québec, Canada)

Mesure quantitative du profil en profondeur des isotopes de l’hydrogène et de l’hélium dans la matière

 

4. François Schiettekatte (Université de Montréal, Québec, Canada)

Les multiples effets des collisions multiples

 

5. Patrick Trocellier (CEA Saclay, Gif sur Yvette)

Comportement sous irradiation des matériaux nucléaires et analyse par faisceaux d’ions en ligne

 

6. André Vantomme (KUL, Louvain, Belgique)

On-line IBA analysis by artificial neural networks

 

7. Alessandro Zucchiatti (CMAM, Madrid, Espagne)

L'irradiation par faisceaux d'ions des objets du patrimoine: quels sont les effets et les implications ?

 

Dates importantes

15-18 novembre 2010

Conference

1er novembre 2010

Date limite d’inscription avant majoration

Octobre 2010

Programme en ligne

17 Septembre 2010

Notification aux auteurs

1er septembre 2010

Date limite pour demande de bourses

27 août 2010

Date limite pour l’envoi des résumés

Avril 2010

Appel à communications

Janvier 2010

Première annonce