SPECTROSCOPIES D'ÉLECTRONS
L’objectif de la Division Spectroscopies d’Électrons est de contribuer à rassembler et structurer une communauté nationale et francophone de spécialistes et d’utilisateurs des spectroscopies d’électrons au sens large, ouverte au niveau européen et soucieuse de diffuser de manière dynamique les innovations scientifiques et techniques en cours.
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Formations SFV
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Coordinateur :
Olivier RENAULT
CEA- LETI, Grenoble
Bureau :
Fabrice BOURNEL (Vice-Coordinateur) - UPMC-LCPMR, Paris
Christine ROBERT-GOUMET (Secrétaire) - Institut Pascal, Clermont-Ferrand
Eric BECHE (Equipe web) - PROMES-CNRS, Font-Romeu
Pardis SIMON (Equipe web) - UCCS, Lille
Gweltaz HIREL - SFV, Paris
Correspondante SFP :
Angela VELLA
Division Matière Condensée
NEWS
- La vidéo du Webinaire de Lars P.H. JEURGENS : voir Actualités
- Les conférences 2024-2025 : voir Conférences
- 3 nouveaux articles scientifiques et un ouvrage (MAJ 2024-02-01) : voir Ressources
- Plusieurs offres d'emploi : IR, ATER, MCF, Post-doc et These (MAJ 2024-09-30) : voir Offres
Les techniques de spectroscopies d'électrons ont beaucoup évolué ces dix dernières années. Ceci est notamment dû à une utilisation croissante de l'XPS et de la spectroscopie Auger (AES) pour l'analyse de routine de la surface de matériaux, mais également, à la disponibilité d’instrumentation avancée pour les méthodes:
- de photoémission (micro-sondes X, analyse angulaire parallèle, profilage en profondeur avec sources à clusters d’ions, analyses à pression ambiante, ARPES, analyses résolues en spin…),
- de microscopies sensibles à la surface (nano-sondes Auger, PEEM, spectro-microscopie XPEEM, …),
- et de par l’utilisation croissante des sources synchrotron de 3e génération (ultra-haute résolution en énergie, nano-faisceaux, résolution temporelle, utilisation d’X-durs).
Dans le même temps, des techniques connexes, plus confidentielles, mais pour autant importantes dans la compréhension des surfaces et des interfaces dans de nombreux domaines, sont toujours de mise : diffraction de photoélectrons, spectroscopie de pertes d’énergie haute-résolution (HREELS), photoémission inverse, microscopie d’électrons lents (LEEM), photoémission résolue en spin, ...
Toute cette richesse de techniques et méthodes d’analyse utilisant les spectroscopies d’électrons est présente en France, depuis les laboratoires académiques et plateformes d’analyse de matériaux jusqu’aux centres industriels de R&D. Le potentiel du parc analytique français est donc important au niveau européen (ne serait-ce qu’avec la présence de deux centres de rayonnement synchrotron sur le territoire) et l’évolution de certains domaines est rapide.
Pour atteindre l’objectif qu’elle s’est fixé, la Division est structurée en 5 sous-comités régionaux qui se réunissent régulièrement.
La Division Spectroscopies d'Electrons met à la disposition de la communauté une carte qui recense les instruments disponibles par institut ou laboratoire et les coordonnées des personnes en charge: