10ème Edition de la réunion des utilisateurs Francophone ToF-SIMS / IONTOF
23 au 25 Mars 2021 – Réunion en ligne

Programme du 23 mars

13:30 Connexion et accueil des participants virtuels

13:35 Introduction (Anouk Galtayries & Alain Brunelle)

13:40 Short introduction of Ewald Niehuis for the 10th Meeting,
CEO IONTOF Munster (D),

14:00 Atelier IONTOF/ IONTOF Workshop
Julia Zakel, IONTOF Munster (D)

1. SurfaceLab 7.1 and 7.2 : Recent Updates

2. Questions from the users

15:00 – Short break

Rubrique spéciale réunion anniversaire: Parcours Professionnels des doctorants des 10 dernières années
15:15 Sebastiaan Van Nuffel, Céline Noël, Vincent Thoreton

15:40 ToF-SIMS en combustion: une approche originale pour caractériser les précurseurs moléculaires des suies
Jessy Elias, Université de Lille

16:00 Développement d’une méthode de caractérisation des OLEDs par analyse combinée TOF-SIMS et XPS
Claire Guyot, CEA LETI, Grenoble

16:20 : Informations SIMS XXIV à La Rochelle (2024) www.sims-24.com
Alain Brunelle, Lab. d'Archéologie Moléculaire et Structurale, Sorbonne Université

Conclusions

16:30 – Fin de la première journée.

Programme du 24 mars

13:30 Connexion et accueil des participants virtuels

13:35 : Informations sur le programme
Anouk. Galtayries, Chimie ParisTech

13:40 : Introduction to the 3DOrbiSIMS with application examples from an academic lab
Morgan Alexander, University of Nottingham (UK), Conférence Invitée

14:10 : Analyse par imagerie TOF-SIMS d’une peinture ancienne : méthodologie, optimisation et application.
Caroline Bouvier, Lab d'Archéologie Moléculaire et Structurale, Sorbonne Université

14:30 Plateforme Andromède, Analyse de surfaces par des Nanoparticules, caractéristiques de l'émission secondaire
Serge Della-Negra, Université Paris Saclay

Rubrique spéciale réunion anniversaire: Parcours Professionnels des doctorants des 10 dernières années
14:50 : Quentin Vanbellingen

15:00 : Pause

Programme du 25 mars

13:30 Connexion et accueil des participants virtuels

13:35 : Informations sur le programme

Alain Brunelle, CNRS-Sorbonne Université

13:40 : Application du ToF-SIMS à l’étude de la protection de la corrosion de l’acier galvanisé
Vanina Cristaudo, Vrije Universiteit Brussel (B)

14:00 : A combined XPS and ToF-SIMS approach for better understanding the passive film
Benjamin Lynch, IRCP, Chimie ParisTech

14:20: Evaluation des profils de composition au sein d’empilement de couches minces pour l’industrie verrière
H. Montigaud, S. Ben Khemis et J. Voronkoff, SVI - Saint-Gobain Research Paris

Rubrique spéciale réunion anniversaire: Parcours Professionnels des doctorants des 10 dernières années
14:50 Maiglid Moreno
15: 00 Elodie Verzeroli /Justine Voronkoff

15:10 : Pause

15:20 : Mass spectrometry imaging of freshwater sentinel species Gammarus fossarum for ecotoxicological investigations
Tingting Fu, Université de Lyon

15:40 : Elaboration de couches minces de protéines grâce au faisceau d'agrégats d'argon du ToF-SIMS
Vincent Delmez, Université de LLN (B)

16:00 : Caractérisation de polymères plasma d'éthylène par ToF-SIMS
Damien Cossement, Materia Nova, Mons (B)

16:20 : Informations Futur GDR Imagerie par Spectrométrie de Masse
Nicolas Desbenoit, Université de Bordeaux

Remarques et Conclusions

16:40 – Fin de la dernière journée

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