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SPECTROSCOPIES D'ÉLECTRONS

La première édition des Journées de Spectroscopies Electroniques se tiendra à Strasbourg, les 23 et 24 janvier 2018 : www.jse-surfaces.org

Les techniques de spectroscopies électroniques ont beaucoup évolué ces dix dernières années. Ceci est notamment dû à la disponibilité d’instrumentation avancée pour les méthodes de photoémission (micro-sondes X, analyse angulaire parallèle, profilage en profondeur avec sources à clusters d’ions, analyses à pression ambiante, ARPES, analyses résolues en spin…), de microscopies sensibles à la surface (nano-sondes Auger, PEEM, spectro-microscopie XPEEM, …) et de par l’utilisation croissante des sources synchrotron de 3e génération (ultra-haute résolution en énergie, nano-faisceaux, résolution temporelle, utilisation d’X-durs).

En même temps, des techniques connexes, plus confidentielles, mais pour autant importantes dans la compréhension des surfaces et des interfaces sont toujours de mise : diffraction de photoélectrons, spectroscopie de pertes d’énergie haute-résolution, photoémission inverse, microscopie d’électrons lents (LEEM).

Toute cette richesse de techniques et méthodes d’analyse utilisant les spectroscopies d’électrons est présente en France, depuis les laboratoires académiques et plateformes d’analyse de matériaux jusqu’aux centres industriels de R&D. Le potentiel du parc analytique français est donc important au niveau européen (ne serait-ce qu’avec la présence de deux centres de rayonnement synchrotron sur le territoire) et l’évolution de certains domaines est rapide.

L’objectif du Comité Spectroscopies d’Electrons est de rassembler et de structurer une communauté nationale et francophone de spécialistes et d’utilisateurs des spectroscopies d’électrons au sens large, ouverte au niveau européen et soucieuse de diffuser de manière dynamique les innovations scientifiques et techniques en cours.

Coordinateur :

Olivier RENAULT
CEA- LETI, Grenoble

Sous-comités régionaux
Affiliation Compétences Suppléant(e)
PARIS IDF
Fabrice BOURNEL
UPMC - LCPMR, Paris
Fonctionnalisation de surface
AP-XPS (TEMPO SOLEIL)
HUMBLOT Vincent
LRS UMR 7197 & UPMC
Amina TALEB
SOLEIL, Gif-sur-Yvette
ARPES, PES
LIgne CASSIOPEE (SOLEIL)
TEJEDA Antonio
LMPQ UMR CNRS 7162
ARPES, structure électronique
Rémi LAZZARI
INSP, Paris
XPS, HREELS, IR HRICOVINI Karol
Univ. Cergy-Pontoise XPS, spin-ARPES
SUD-EST
Geneviève GRENET
INL - EC, Lyon
Surfaces d'oxydes, semiconducteurs XPS, PES, XPD    BESSUEILLE François
INSA, Lyon
XPS, catalyse
RENAULT Olivier
CEA-LETI, Grenoble
Semi-conducteurs
XPS, PES, HAXPES, XPEEM
   
LEROY Frédéric
CiNAM, Marseille
LEEM, PEEM, surfaces ROBERT-GOUMET Christine
Université Clermont-Auvergne
SUD-OUEST
Hervé MARTINEZ
IPREM-Univ. Pau
Matériaux pour le stockage de l'énergie XPS, Auger, ToF-SIMS   DUGUET Thomas
CIRIMAT-Toulouse
XPS, simulation DFT/HF, Auger
Eric BECHE
PROMES - CNRS, Perpignan
XPS oxydes complexes et matériaux réfractaire LABORDE Etienne
(IE Université) - SPCTS Limoges
NORD-EST
Sylvie BOURGEOIS
ICB, Dijon
Réactivité des oxydes XPS, PES, XPD ZAFEIRATOS Spiros
ICPEES, Strasbourg
XPS/UPS, LEIS
Sébastien CREMEL
ArcelorMittal Global R&D
XPS, métallurgie, transferts in situ, nano-Auger en compétences    
  Julian LEDIEU
IJL Nancy
Métallurgie et Surfaces XPS, UPS, LEED, STM, nano-Auger -(TUBE)   FAGOT-REVURAT Yannick
IJL ARPES (TUBE)
Pardis SIMON
UCCS, Lille
XPS, LEIS, compétence EELS (TEM)   PONCHE Arnaud
NORD-OUEST
Mireille RICHARD
IMN, Nantes
Matériaux et plasma XPS FERNANDEZ Vincent
IMN
Responsable Plate-forme XPS
Benoît LESCOP
UBO, LMB, Brest
Corrosion surface métalliques
XPS, UPS, MIES
ABABOU-GIRARD Soraya
Institut de Physique de Rennes

 

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