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SPECTROSCOPIES D'ÉLECTRONS

Les techniques de spectroscopies électroniques ont beaucoup évolué ces dix dernières années. Ceci est notamment dû à la disponibilité d’instrumentation avancée pour les méthodes de photoémission (micro-sondes X, analyse angulaire parallèle, profilage en profondeur avec sources à clusters d’ions, analyses à pression ambiante, ARPES, analyses résolues en spin…), de microscopies sensibles à la surface (nano-sondes Auger, PEEM, spectro-microscopie XPEEM, …) et de par l’utilisation croissante des sources synchrotron de 3e génération (ultra-haute résolution en énergie, nano-faisceaux, résolution temporelle, utilisation d’X-durs).

En même temps, des techniques connexes, plus confidentielles, mais pour autant importantes dans la compréhension des surfaces et des interfaces sont toujours de mise : diffraction de photoélectrons, spectroscopie de pertes d’énergie haute-résolution, photoémission inverse, microscopie d’électrons lents (LEEM).

Toute cette richesse de techniques et méthodes d’analyse utilisant les spectroscopies d’électrons est présente en France, depuis les laboratoires académiques et plateformes d’analyse de matériaux jusqu’aux centres industriels de R&D. Le potentiel du parc analytique français est donc important au niveau européen (ne serait-ce qu’avec la présence de deux centres de rayonnement synchrotron sur le territoire) et l’évolution de certains domaines est rapide.

L’objectif du Comité Spectroscopies d’Electrons est de rassembler et de structurer une communauté nationale et francophone de spécialistes et d’utilisateurs des spectroscopies d’électrons au sens large, ouverte au niveau européen et soucieuse de diffuser de manière dynamique les innovations scientifiques et techniques en cours.

Coordinateur :

Olivier RENAULT
CEA- LETI, Grenoble

Sous-comités régionaux

 

Affiliation Compétences Suppléant(e)
PARIS IDF
Fabrice BOURNEL
UPMC - LCPMR, Paris
Fonctionnalisation de surface
NAP-XPS (TEMPO SOLEIL)
Vincent HUMBLOT 
LRS UMR 7197 & UPMC
Amina TALEB
SOLEIL, Gif-sur-Yvette
ARPES, PES
Directrice Scientifique (SOLEIL)
Antonio TEJEDA 
LPS UMR CNRS 8502Structure électronique, ARPES, IPES, XPS
Rémi LAZZARI
INSP, Paris
XPS, HREELS, IR Karol HRICOVINI
Pr, U-Cergy-PontoiseXPS, spin-ARPES
SUD-EST
Geneviève GRENET
INL - EC, Lyon
Surfaces d'oxydes, semiconducteurs

XPS, PES, XPD

  François BESSUEILLE 
IR, INSA, Lyon
XPS, catalyse
RENAULT Olivier
CEA-LETI, Grenoble
Semi-conducteurs
XPS, PES, HAXPES, XPEEM
LEROY Frédéric
CiNAM, Marseille
LEEM, PEEM, surfaces Christine ROBERT-GOUMET 
Pr, U-Clermont AuvergneXPS, MM-EPEM
SUD-OUEST
Hervé MARTINEZ
IPREM-Univ. Pau
Matériaux pour le stockage de l'énergie

XPS, Auger, ToF-SIMS

Thomas DUGUET
CR, CIRIMAT-Toulouse
XPS, simulation DFT/HF, Auger
Eric BECHE
CR, PROMES - CNRS, Perpignan
XPS, AES, matériaux haute-température Etienne LABORDE
IE Université - SPCTS LimogesXPS
NORD-EST
Sylvie BOURGEOIS
ICB, Dijon
Réactivité des oxydes XPS, PES, XPD Spiros ZAFEIRATOS 
CR, ICPEES, Strasbourg
XPS/UPS, LEIS, catalyse
Sébastien CREMEL
ArcelorMittal Global R&D
XPS, métallurgie, transferts in situ, nano-sonde Auger
Julian LEDIEU
CR, IJL, Nancy
Métallurgie et Surfaces

XPS, UPS, LEED, STM, nano-Auger -(TUBE)

Yannick FAGOT-REVURATPr, IJL & U-Lorraine

ARPES (TUBE)

Pardis SIMON
UCCS, Lille
XPS, LEIS, compétence EELS (TEM)   Arnaud PONCHE 

Pr, IS2M, Univ. Haute-Alsace

XPS, polymères

NORD-OUEST
Mireille RICHARD
IMN, Nantes
Matériaux et plasma

XPS

Vincent FERNANDEZ 
IR, IMN, Nantes
Responsable Plate-forme XPS
Benoît LESCOP
UBO, LMB, Brest
Corrosion des surfaces métalliques
XPS, UPS, MIES
Soraya ABABOU-GIRARD 
Pr, Inst. de Physique de RennesXPS
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